자성이물 검출
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Powder Mixing
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Collection & Rinsing
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Ionization
- ICP Sample Preparation
Filtration
- SEM Sample Preparation
완전 자동화
일 최대 144 샘플처리
높은 정확도
Collection rate > 94%
높은 재현성
RSD < 10%, SD < 2.0
(30샘플 전처리 결과)안전성
왕수 미사용, 이온화 공정 자동화
비용 효율성
1일 1명분의 검사원만 필요
Mag IA의 교반(mixing) 기술은 응집된 양극재 파우더를 효과적으로 분산합니다. 교반 시간과 속도, 회전축, 완전 밀폐형 전용 용기(mix container)를 설계하여 양극재 파우더에 포함된 자성 불순물을 효과적으로 분리·유리할 수 있습니다.
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기존 상용 교반(Mixing) 방식
- 수평축
- 일정 속도와 힘으로 회전 (Mill Roll)
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Mag IA 교반(Mixing) 방식
- Mix container의 수직축
- 간헐적 회전
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Mill roll Collection
Mill Roll 포집 방식은 슬러리 전체와 접촉하지 않습니다. 믹싱 및 포집 시간 동안 내부 자석은 한 위치에 머무르기 때문에 자석이 실제로 접촉하는 슬러리의 양은 전체의 약 33% 수준에 불과합니다.
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Mag IA Collection
Mag IA의 포집 기술은 자석을 감싸는 커버인 슬리브(sleeve)의 동작을 제어하여 슬러리 전체를 완전하게 스윕(sweep)하며 모든 자성 이물과 접촉하여 포집합니다.
Mag IA의 린스 기술은 양극활물질 입자와 이물 입자 간 자성 차이를 이용한 원리를 기반으로 합니다.
포집 & 린스 공정 동안 자석의 on/off 제어를 통해 약한 자성을 가진 이물(SUS 등)을 3μm까지 효과적으로 포집할 수 있습니다.
이 과정을 반복하여 상자성인 양극재는 제거되고, 최종적으로 자성 불순물만 선택적으로 분리·회수합니다.
Mag IA는 왕수를 가열하여 이물을 이온화하는 기존 방식을 대체하는 ICP 샘플 전처리 기술을 개발하였습니다.
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- Mag IA에서 개발한 산(RapidSolv) 이용
- 외부 가열없이 이물(SUS, Fe) 5분 이내 이온화 완료
- 왕수 미사용, 유독 가스 미발생
- 글로벌 배터리 제조사와 기술 검증 완료
- 사용 시 별도의 인증 필요 없음
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Mag IA는 왕수를 가열하여 이물을 이온화하는 기존 방식을 대체하는 ICP 샘플 전처리 기술을 개발하였습니다.
- 높은 정확도 (High Precision) : 우수한 정확도와 불순물 회수 성능 검증
- 높은 일관성 (High Consistency) : 고객 CoA 데이터와 높은 상관관계 확보 (R² > 0.9)
- 높은 재현성 (High Reproducibility) : 반복 측정에서도 안정적이고 일관된 결과 (낮은 RSD)
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Step.1
린스 용액 여과 (SEM Tray 사용해 이물 필터링)
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Step.2
필터에 점착제 도포 + Vacuum
Mag IA는 기존 carbon tape 방식을 대체하는 SEM 샘플 전처리 기술과 conductive SEM 필터를 개발하였습니다. 자성 이물만 필터 위에 100% 회수하여 SEM 분석의 정확도 향상, 시간은 획기적으로 단축시킵니다. Direct SEM 분석이 가능하여 사용자 편의성을 동시에 높였습니다.
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Current Practice
- Carbon tape 전사 방식
- 입자의 뭉침 발생
- 양극재 입자 다량 포집
- 이물 분리 분석의 어려움
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Mag IA SEM Sample
- 입자 중첩 없음
- 양극재 입자 최소화
- 이물의 깨끗한 분리
- 이물의 형태 분석과 계수에 최적화된 선명한 SEM data 확보